2018 4月15日，anysilicon
对于ASIC或IC，有推荐他们的存储，使它们能够在适当的功能进行的环境条件。然而，众所周知，存储可能并不总是接近推荐标准。这是高温储藏寿命（HTSL）的测试进场，测试
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高加速应力测试（HAST）涉及的湿度和温度对IC或ASIC的影响。在HAST被设计极端湿度和温度条件下测试的ASIC的包。即通过这样的测试设备将能够承受温度的严酷正常
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除了其用于测量所述静电放电（ESD）可能影响IC / ASIC器件人体模型（HBM），还损害可能来自其也必须被测试充电装置模型（CDM）。虽然表面类似HBM，清洁发展机制是不同的，
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在构建集成电路（IC）或ASIC，备受关注的一个领域是他们是如何从外部来源的电气保护。虽然大多数系统正朝着功率过载，一个源可能造成相当大的损坏齿轮是静电放电（ESD），其来自于人体。为了帮助测试
阅读更多2018年3月31日，anysilicon
许多IC设计人员很少注意IC的资格，因此付出高昂的代价和延误的芯片达到高容量之前。经验丰富的IC设计人员的心态正在考虑通过IC设计过程的所有阶段IC质量（和生产测试）。今天，比以往任何时候，重新流片是
阅读更多2016年2月11日，anysilicon
随着ASIC设计向掩模组创建和流片移动，设计变更的成本成倍增加。它更容易和更便宜的修改ASIC设计，甚至重做一些芯片架构的早期设计阶段。但是它更加困难和昂贵得多后
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