比利时
在高电压和功耗ASIC设计凭借丰富的专业知识，MinDCet提供量身定制的集成电路解决方案。MinDCet解决方案包括全面发展谱，我们从概念化客户紧密合作，通过对低到中等批量生产阶段，通过内部生产检测设施的支持和预生产测试能力。高品质的发展标准，肯定了MinDCet的ISO9001认证。
核心发展活动集中于宽带隙栅极驱动器（GaN和SiC）的，高电压（> 650V），用于功率控制，感测和电机驱动应用辐射硬化和高温的ASIC。
此外，MinDCet测量系统开发和生产的专利的测量系统用于在电感器（MADMIX）和电容器（MADCAP）分析损失。这些测量系统增加附加价值，世界各地著名的R＆d设施和大学。
我们的客户需要独特的集成电路解决方案，当关闭的，现成的产品不能满足他们的要求。MinDCet发展从理念阶段，引导他们到定制IC的执行包含在与客户的合作伙伴关系的解决方案。在此过程中，MinDCet负责整个研发和生产链。IC设计，布线工程师，表征/测试工程师和应用工程师的专业团队确保从创意到最终产品的预测，控制流量。无论您的产品需要抗辐射，高温度 - 高的速度 - 高电压 - 和高可靠性，功能，MinDCet拥有专业知识和准备提供一个合适的结果。
一个40V / 5A智能化半桥IC。
MinDCet是您的单点联系人，管理整个IC工艺：代工访问，原型设计，表征，包装，测试开发，并最终生产和测试。我们的合作伙伴网络，确保了稳定的生产流程。自2019年，测试开发和最终生产测试都是在内部我们新的洁净室设备进行。作为表征和测试步骤相结合这种方法提供了在时间和降低成本显著的好处。此外，我们的测试工程师和IC设计者之间的闭环互动使响应时间短，对稳定生产流程的一个重要方面。
MinDCet实验室工程师编程生产IC测试设置
在MinDCet的初期，我们发现，开关电源（SMPS），电感和电容都缺少必要的模型准确地模拟SMPS电路。作为电源IC发展的重要组成部分，这一赤字触发了我们的MADMIX和MADCAP设备的内部开发。这些专利的系统允许的在现实生活SMPS电感器和电容器交流损耗测量，开关模式的刺激。如今，这个设备是市售的，在世界各地的许多实验室服务中的关键作用。
所述MADMIX电感测量系统。
- 在高侧和低侧稳压电源欠压锁定
- 在逻辑电源欠压锁定
- 栅电压监测
- 闭环死区时间控制
- 温度传感
- 过电流检测
- 平均电流遥测（在组合与外部分流器）
- 可编程的Vds / DESAT监测
- 片上过温度检测
- 过压和欠压保护
